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概述三坐標(biāo)
日期：2024-10-15 00:06
瀏覽次數(shù)：2167
摘要：
任何形狀都是由空間點(diǎn)組成的，所有的幾何量測(cè)量都可以歸結(jié)為
空間點(diǎn)的測(cè)量，因此**進(jìn)行空間點(diǎn)坐標(biāo)的采集，是評(píng)定任何幾何形狀的基礎(chǔ)。
坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的基本原理是將被測(cè)零件放入它允許的測(cè)量空間，精
確的測(cè)出被測(cè)零件表面的點(diǎn)在空間三個(gè)坐標(biāo)位置的數(shù)值，將這些點(diǎn)
的坐標(biāo)數(shù)值經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)處理，擬合形成測(cè)量元素，如圓、球、
圓柱、圓錐、曲面等，經(jīng)過(guò)數(shù)學(xué)計(jì)算的方法得出其形狀、位置公差及其他幾何量數(shù)據(jù)。
在測(cè)量技術(shù)上，光柵尺及以后的容柵、磁柵、激光干涉儀的出
現(xiàn)，**性的把尺寸信息數(shù)字化，不但可以進(jìn)行數(shù)字顯示，而且為
幾何量測(cè)量的計(jì)算機(jī)處理，進(jìn)而用于控制打下基礎(chǔ)。
三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x可定義為“一種具有可作三個(gè)方向移動(dòng)的探測(cè)器，可在
三個(gè)相互垂直的導(dǎo)軌上移動(dòng)，此探測(cè)器以接觸或非接觸等方式傳送訊號(hào)，
三個(gè)軸的位移測(cè)量系統(tǒng) ( 如光學(xué)尺 ) 經(jīng)數(shù)據(jù)處理器或計(jì)算機(jī)等計(jì)算出工件
的各點(diǎn)坐標(biāo)(X、Y、Z)及各項(xiàng)功能測(cè)量的儀器”。三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的測(cè)量功能應(yīng)
包括尺寸精度、定位精度、幾何精度及輪廓精度等。
三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x應(yīng)用領(lǐng)域可概括為以下4點(diǎn)：
1.測(cè)量高精度的幾何零件和曲面；
2.測(cè)量復(fù)雜形狀的機(jī)械零部件；
3.檢測(cè)自由曲面；
4.可選用接觸式或非接觸式測(cè)頭進(jìn)行連續(xù)掃描
空間點(diǎn)的測(cè)量，因此**進(jìn)行空間點(diǎn)坐標(biāo)的采集，是評(píng)定任何幾何形狀的基礎(chǔ)。
坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的基本原理是將被測(cè)零件放入它允許的測(cè)量空間，精
確的測(cè)出被測(cè)零件表面的點(diǎn)在空間三個(gè)坐標(biāo)位置的數(shù)值，將這些點(diǎn)
的坐標(biāo)數(shù)值經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)處理，擬合形成測(cè)量元素，如圓、球、
圓柱、圓錐、曲面等，經(jīng)過(guò)數(shù)學(xué)計(jì)算的方法得出其形狀、位置公差及其他幾何量數(shù)據(jù)。
在測(cè)量技術(shù)上，光柵尺及以后的容柵、磁柵、激光干涉儀的出
現(xiàn)，**性的把尺寸信息數(shù)字化，不但可以進(jìn)行數(shù)字顯示，而且為
幾何量測(cè)量的計(jì)算機(jī)處理，進(jìn)而用于控制打下基礎(chǔ)。
三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x可定義為“一種具有可作三個(gè)方向移動(dòng)的探測(cè)器，可在
三個(gè)相互垂直的導(dǎo)軌上移動(dòng)，此探測(cè)器以接觸或非接觸等方式傳送訊號(hào)，
三個(gè)軸的位移測(cè)量系統(tǒng) ( 如光學(xué)尺 ) 經(jīng)數(shù)據(jù)處理器或計(jì)算機(jī)等計(jì)算出工件
的各點(diǎn)坐標(biāo)(X、Y、Z)及各項(xiàng)功能測(cè)量的儀器”。三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的測(cè)量功能應(yīng)
包括尺寸精度、定位精度、幾何精度及輪廓精度等。
三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x應(yīng)用領(lǐng)域可概括為以下4點(diǎn)：
1.測(cè)量高精度的幾何零件和曲面；
2.測(cè)量復(fù)雜形狀的機(jī)械零部件；
3.檢測(cè)自由曲面；
4.可選用接觸式或非接觸式測(cè)頭進(jìn)行連續(xù)掃描